Detail publikace

Reduction of Test Vectors Number based on Parasitic Capacity Extraction of Scan Chain Wires

BARTOŠ Pavel a KOTÁSEK Zdeněk. Reduction of Test Vectors Number based on Parasitic Capacity Extraction of Scan Chain Wires. In: Proceedings of CSE 2012 International Scientific Conference on Computer Science and Engineering. Košice: Fakulta elektrotechniky a informatiky, Technická univerzita v Košiciach, 2012, s. 162-169. ISBN 978-80-8143-049-7.
Název česky
Redukce počtu testovacích vektorů založená na extrakci parazitních kapacit vodičů řetězce scan
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Abstrakt

Příspěvek popisuje metodu optimalizace scan řetězce po fázi fyzického návrhu za účelem snížení počtu testovacích vektorů. Princip metody je založen na eliminaci některých typů chyb a tím i počtu testovacích vektorů nutných pro jejich otestování. Metoda byla experimentálně ověřena na sadě testovacích obvodů ITC99, výsledky experimentů jsou v příspěvku uvedeny.

Rok
2012
Strany
162-169
Sborník
Proceedings of CSE 2012 International Scientific Conference on Computer Science and Engineering
Konference
International Scientific Conference on Computer Science and Engineering, CSE 2012, Stará Lesná, SK
ISBN
978-80-8143-049-7
Vydavatel
Fakulta elektrotechniky a informatiky, Technická univerzita v Košiciach
Místo
Košice, SK
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB10033,
   author = "Pavel Barto\v{s} and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Reduction of Test Vectors Number based on Parasitic Capacity Extraction of Scan Chain Wires",
   pages = "162--169",
   booktitle = "Proceedings of CSE 2012 International Scientific Conference on Computer Science and Engineering",
   year = 2012,
   location = "Ko\v{s}ice, SK",
   publisher = "Faculty of Electrical Engineering and Informatics, University of Technology Ko\v{s}ice",
   ISBN = "978-80-8143-049-7",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/10033"
}
Soubory
Nahoru