Detail publikace

Analysis and Comparison of Functional Verification and ATPG for Testing Design Reliability

ZACHARIÁŠOVÁ Marcela, BOLCHINI Cristiana a KOTÁSEK Zdeněk. Analysis and Comparison of Functional Verification and ATPG for Testing Design Reliability. In: IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Karlovy Vary: IEEE Computer Society, 2013, s. 275-278. ISBN 978-1-4673-6133-0.
Název česky
Analýza a porovnání funkční verifikace a ATPG pro testování spolehlivosti
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Zachariášová Marcela, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Bolchini Cristiana (Polimi)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Klíčová slova

ATPG, functional verification.

Abstrakt

Složitost současných hardwarových systémů roste a je ťežké je zabezpečit proti poruchám a provést jejich verifikaci. Příčinou je, že verifikace a testování zaberají hodně času a s rastoucí složitostí obvodu roste i počet návrhových chyb a výrobních poruch. Navíc, když navrhujeme systém odolný proti poruchám, proces testování a verifikace se ještě více komplikuje. V tomto článku jsou představeny dva přístupy pro verifikaci spolehlivosti, především pro přípravu vstupních vektorů. První z nich je ATPG a druhým Generování testů pomocí omezujícich podmínek. V článku jsou vyhodnoceny jejich kvality i nedostatky a představeny nové techniky jak tyto dva přístupy zkombinovat pro dosáhnutí ještě lepších výsledků.

Rok
2013
Strany
275-278
Sborník
IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Konference
IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2013, Karlovy Vary, CZ
ISBN
978-1-4673-6133-0
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Karlovy Vary, CZ
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB10274,
   author = "Marcela Zachari\'{a}\v{s}ov\'{a} and Cristiana Bolchini and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Analysis and Comparison of Functional Verification and ATPG for Testing Design Reliability",
   pages = "275--278",
   booktitle = "IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems",
   year = 2013,
   location = "Karlovy Vary, CZ",
   publisher = "IEEE Computer Society",
   ISBN = "978-1-4673-6133-0",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/10274"
}
Nahoru