Článek ve sborníku konference

ČEKAN Ondřej a KOTÁSEK Zdeněk. A Probabilistic Context-Free Grammar Based Random Test Program Generation. In: Proceedings of 20th Euromicro Conference on Digital System Design. Vídeň: Technische Universitaet Wien, 2017, s. 356-359. ISBN 978-1-5386-2146-2.
Jazyk publikace:angličtina
Název publikace:A Probabilistic Context-Free Grammar Based Random Test Program Generation
Název (cs):Náhodné generování testovacích programů založené na pravděpodobnostní bezkontextové gramatice
Strany:356-359
Sborník:Proceedings of 20th Euromicro Conference on Digital System Design
Konference:20th Euromicro Conference on Digital Systems Design
Místo vydání:Vídeň, AT
Rok:2017
ISBN:978-1-5386-2146-2
DOI:10.1109/DSD.2017.26
Vydavatel:Technische Universitaet Wien
Klíčová slova
Probabilistic Context-Free Grammar, Random Test
Program Generation, Stimulus, Constraint
Anotace
Cílem tohoto příspěvku je ukázat možné použití pravděpodobnostní gramatiky v oblasti generování stimulů, zvláště pro generování testovacích programů pro procesory. Náhodné testovací programy jsou v současnosti hojně používány v oblasti funkční verifikace. Pravděpodobností gramatika nemůže být v oblasti generování stimulů použita ve své čisté podobě a proto byla rozšířena o omezující podmínky, které zajistí vygenerování validního testovacího programu. Experimenty porovnávají tento přístup s konvenčními způsoby.
BibTeX:
@INPROCEEDINGS{
   author = {Ond{\v{r}}ej {\v{C}}ekan and Zden{\v{e}}k
	Kot{\'{a}}sek},
   title = {A Probabilistic Context-Free Grammar Based Random
	Test Program Generation},
   pages = {356--359},
   booktitle = {Proceedings of 20th Euromicro Conference on Digital System
	Design},
   year = 2017,
   location = {V{\'{i}}de{\v{n}}, AT},
   publisher = {TU Vienna},
   ISBN = {978-1-5386-2146-2},
   doi = {10.1109/DSD.2017.26},
   language = {english},
   url = {http://www.fit.vutbr.cz/research/view_pub.php.cs?id=11426}
}

Vaše IPv4 adresa: 18.205.176.100
Přepnout na https