Článek ve sborníku konference

STRNADEL Josef a KOTÁSEK Zdeněk. Testability Improvements Based on the Combination of Analytical and Evolutionary Approaches at RT Level. In: Proceedings of Euromicro Symposium on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD'2002. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 2002, s. 166-173. ISBN 0-7695-1790-0.
Jazyk publikace:angličtina
Název publikace:Testability Improvements Based on the Combination of Analytical and Evolutionary Approaches at RT Level
Název (cs):Zlepšení testovatelnosti založené na kombinaci analytických a evolučních přístupů na RT úrovni popisu
Strany:166-173
Sborník:Proceedings of Euromicro Symposium on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD'2002
Konference:EUROMICRO Symposium on Digital System Design: Architecture, Methods and Tools
Místo vydání:Los Alamitos, US
Rok:2002
ISBN:0-7695-1790-0
Vydavatel:IEEE Computer Society Press
Soubory: 
+Typ Jméno Název Vel. Poslední změna
icon2002-dsd.pdf263 KB2008-01-30 10:57:54
^ Vybrat vše
S vybranými:
Klíčová slova
design for testability, scan technique, scan register, scan chain, state-space analysis, evolutionary approach, genetic algorithm
Anotace
V článku je prezentován nový heuristický přístup k analýze testovatelnosti číslicových systémů reprezentovaných na RT úrovni popisu. Je ukázáno, že ohodnocení řiditelnosti/pozorovatelnosti reflektující strukturu číslicového systému je možno použít k nalezení přípustného kompromisu mezi testovatelností a návrhovými omezeními. Cílem metody je nalézt takovou modifikaci původní obvodové struktury, která se bude vyznačovat co nejlepší testovatelností dosažitelnou při daných návrhových omezeních. K prohlednávání prostoru řešení jsou využity evoluční techniky, zatímco pro ohodnocení testovatelnosti je využit algoritmus nad orientovaným grafem modelujícím vlastnosti obvodu.
BibTeX:
@INPROCEEDINGS{
   author = {Josef Strnadel and Zden{\v{e}}k Kot{\'{a}}sek},
   title = {Testability Improvements Based on the Combination
	of Analytical and Evolutionary Approaches at RT
	Level},
   pages = {166--173},
   booktitle = {Proceedings of Euromicro Symposium on Digital System Design
	Architectures, Methods and Tools DSD'2002},
   year = {2002},
   location = {Los Alamitos, US},
   publisher = {IEEE Computer Society Press},
   ISBN = {0-7695-1790-0},
   language = {english},
   url = {http://www.fit.vutbr.cz/research/view_pub.php.cs?id=6980}
}

Vaše IPv4 adresa: 54.236.230.108
Přepnout na IPv6 spojení

DNSSEC [dnssec]