Detail publikace

Methodologies of RTL Partial Scan Analysis and Their Comparison

KOTÁSEK Zdeněk, MIKA Daniel a STRNADEL Josef. Methodologies of RTL Partial Scan Analysis and Their Comparison. In: Proceeding of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems. Poznaň: Publishing House of Poznan University of Technology, 2003, s. 233-238. ISBN 83-7143-557-6.
Název česky
Sbroník IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Klíčová slova

Úroveň meziregistrových přenosů, zpětnovazební smyčka, genetický algoritmus

Abstrakt

V příspěvku se řeší problematika výběru registrů do řetězce SCAN. Jsou zde rovněž velmi stručně popsány implementace použitých metod. První z nich je založena na použití genetického algoritmu, druhá se zabývá řešením pomocí identifikace zpětnovazebních smyček. Důraz je kladen na časovou a prostorovou složitost řešených problémů. Je zde také diskutována myšlenka redukce stavového prostoru pomocí kombinace obou prezentovaných metodik. Na závěr jsou uvedeny experimentální výsledky.

Rok
2003
Strany
233-238
Sborník
Proceeding of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems
Konference
6th IEEE International Workshop On DDECS, Poznaň, hotel Trawinski, PL
ISBN
83-7143-557-6
Vydavatel
Publishing House of Poznan University of Technology
Místo
Poznaň, PL
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB7159,
   author = "Zden\v{e}k Kot\'{a}sek and Daniel Mika and Josef Strnadel",
   title = "Methodologies of RTL Partial Scan Analysis and Their Comparison",
   pages = "233--238",
   booktitle = "Proceeding of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems",
   year = 2003,
   location = "Pozna\v{n}, PL",
   publisher = "Publishing House of Poznan University of Technology",
   ISBN = "83-7143-557-6",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7159"
}
Nahoru