Detail publikace

The Test Controller Design Based on I-Path Concept

MIKA Daniel. The Test Controller Design Based on I-Path Concept. In: Proceedings of 9th Conference and Competition STUDENT EEICT 2003 Volume 3. Brno: Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně, 2003, s. 624-628. ISBN 80-214-2379-X.
Název česky
Návrh řadiče testu na bázi i-cest
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Mika Daniel, Ing. (UPSY FIT VUT)
Klíčová slova

Úroveň meziregistrových přenosů, i-cesta, obvod pro test

Abstrakt

Příspěvek popisuje proces návrhu a syntézu řadiče testu na úrovni meziregistrových přenosů. Je zde diskutován princip přístupu řadiče k jednotlivým prvkům obvodu v průběhu aplikace testu. Matematická logika a teorie množin jsou použity jako vhodné formální prostředky pro návrh. Výklad pokračuje vysvětlnením pojmu i-cesty ve vztahu k přenosu diagnostických dat. V závěru je uveden demonstrační příklad.

Rok
2003
Strany
624-628
Sborník
Proceedings of 9th Conference and Competition STUDENT EEICT 2003 Volume 3
Konference
ELECTRICAL ENGINEERING, INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES 2003, Brno, CZ
ISBN
80-214-2379-X
Vydavatel
Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií VUT v Brně
Místo
Brno, CZ
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB7168,
   author = "Daniel Mika",
   title = "The Test Controller Design Based on I-Path Concept",
   pages = "624--628",
   booktitle = "Proceedings of 9th Conference and Competition STUDENT EEICT 2003 Volume 3",
   year = 2003,
   location = "Brno, CZ",
   publisher = "Faculty of Electrical Engineering and Communication BUT",
   ISBN = "80-214-2379-X",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7168"
}
Nahoru