Článek ve sborníku konference | |
| Růžička, R., Šimek, V., Sekanina, L.: Behavior of CMOS Polymorphic Circuits in High Temperature Environment, In: Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Cottbus, DE, IEEE CS, 2011, s. 447-452, ISBN 978-1-4244-9753-9 | | Jazyk publikace: | angličtina |
|---|
| Název publikace: | Behavior of CMOS Polymorphic Circuits in High Temperature Environment |
|---|
| Název (cs): | Chování polymorfních obvodů CMOS při vysokých teplotách |
|---|
| Strany: | 447-452 |
|---|
| Sborník: | Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems |
|---|
| Konference: | IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2011 |
|---|
| Místo vydání: | Cottbus, DE |
|---|
| Rok: | 2011 |
|---|
| ISBN: | 978-1-4244-9753-9 |
|---|
| Vydavatel: | IEEE Computer Society |
|---|
| Soubory: | |
|---|
|
| | Klíčová slova |
|---|
| Polymorphic digital circuits, polymorphic gates, reconfigurable circuits, temperature-aware design. |
| Anotace |
|---|
| Článek popisuje sérii experimentů konaných s cílem analyzovat vliv vysokých teplot na chování polymorfních číslicových obvodů. Tyto experimenty byly provedeny na rekonfigurovatelném polymorfním obvodě REPOMO32, který lze (kromě konfiguračního bitového řetězce) konfigurovat také změnou napájecího napětí (Vdd). Experimenty ukazují, že polymorfní hradla v obvodě lze snadno ovlivnit (jejich funkci) ne pouze změnou Vdd, ale také změnou teploty. Kromě toho experimenty také potvrdily, že obvod REPOMO32 je dostatečně robustně navržen a jeho dynamické parametry jsou v širokém rozsahu pracovních teplot dostatečně stabilní na to, aby mohl být využíván v dalších návrzích číslicových polymorfních obvodů řízených teplotou. |
| BibTeX: |
|---|
@INPROCEEDINGS{
author = {Richard Růžička and Václav Šimek and Lukáš Sekanina},
title = {Behavior of CMOS Polymorphic Circuits in High Temperature
Environment},
pages = {447--452},
booktitle = {Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and
Diagnostics of Electronic Circuits and Systems},
year = {2011},
location = {Cottbus, DE},
publisher = {IEEE Computer Society},
ISBN = {978-1-4244-9753-9},
language = {english},
url = {http://www.fit.vutbr.cz/research/view_pub.php?id=9581}
} |
|