Článek ve sborníku konference

 
Stareček, L.: Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu, In: Sborník příspěvků Česko-slovenského semináře Počítačové architektury a diagnostika pro studenty doktorandského studia, Plzeň, CZ, ZČU v Plzni, 2007, s. 41-46, ISBN 978-80-7043-605-9
Jazyk publikace:čeština
Název publikace:Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu
Název (en):Polymorphic gates for test optimalization
Strany:41-46
Sborník:Sborník příspěvků Česko-slovenského semináře Počítačové architektury a diagnostika pro studenty doktorandského studia
Konference:Počítačové architektury a diagnostika 2007
Místo vydání:Plzeň, CZ
Rok:2007
ISBN:978-80-7043-605-9
Vydavatel:Západočeská univerzita v Plzni
Klíčová slova
polymorfní elektronika, polytronika, polymorfní hradla, ATPG, design for test, snižování počtu testovacích vektorů.
Anotace
Polymorfní elektronika je nový přístup k tvorbě elektronických obvodů, které jsou schopny na základě vnějších podmínek (teplo, světlo, napájecí napětí atp.) měnit svoji funkci. Tato práce pojednává o novém typu aplikace polymorfní elektroniky. Polymorfní hradla jsou vkládána do klasických obvodů za účelem snížení počtu testovacích vektorů potřebných pro dosažení stanovených parametrů testu. V jednom režimu plní obvod klasickou funkci. Ve druhém režimu může být obvod testován s menším počtem testovacích vektorů, než kdyby zůstal v režimu prvním, přičemž pokrytí poruch je stejné. Při testech na šesti vzorových obvodech bylo dosaženo redukce až 50%. Článek se také zabývá některými problémy, které daný koncept přináší.
BibTeX:
@INPROCEEDINGS{
   author = {Lukáš Stareček},
   title = {Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu},
   pages = {41--46},
   booktitle = {Sborník příspěvků Česko-slovenského semináře Počítačové
	architektury a diagnostika pro studenty doktorandského
	studia},
   year = {2007},
   location = {Plzeň, CZ},
   publisher = {University of West Bohemia in Pilsen},
   ISBN = {978-80-7043-605-9},
   language = {czech},
   url = {http://www.fit.vutbr.cz/research/view_pub.php?id=8440}
}