Název:

Principy syntézy testovatelných obvodů

Zkratka:PTD
Ak.rok:2017/2018
Semestr:zimní
Studijní plán:
ProgramOborRočníkPovinnost
VTI-DR-4DVI4-volitelný
Vyučovací jazyk:čeština
Ukončení:zkouška (písemná)
Výuka:
hod./sempřednáškasem./cvičenílab. cvičenípoč. cvičeníjiná
Rozsah:390000
 zkouškatestycvičenílaboratořeostatní
Body:00000
Garant:Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc., UPSY
Přednášející:Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc., UPSY
Fakulta:Fakulta informačních technologií VUT v Brně
Pracoviště:Ústav počítačových systémů FIT VUT v Brně
Rozvrh:
DenVýukaTýdenMístnostOdDoPSKSk-odSk-do
ČtpřednáškavýukyL32113:0014:50
 
Anotace:
  Předmět poskytuje studentům aktuální informaci z oblasti testování číslicových obvodů a testovatelného návrhu. Zabývá se problémy z oblasti diagnostiky, s nimiž se setkává návrhář číslicových obvodů. Budou vysvětleny pojmy související s testovatelností číslicového obvodu (řiditelnost, pozorovatelnost) a metody jejího zlepšení. Pozornost bude zaměřena na metody strukturovaného návrhu, především LSSD, dále metody typu částečný scan. Bude pojednáno o principech autonomního testování a prvcích potřebných pro realizaci tohoto typu testu (generátory testovacích vektorů, příznakové analyzátory).

 

Okruhy otázek k SDZ:

1. Vývoj principů testování číslicových systémů.

2. Pojem řiditelnost / pozorovatelnost.

3. Metoda testovacích bodů - výhody / nevýhody.  

4. Přehled metod scan.

5. Rozdíl mezi sériovými a paralelními metodami - výhody / nevýhody.

6. Metoda LSSD.

7. Metoda RAS / ARAS.

8. Metody částečný scan v. úplný scan.

9. Metoda Boundary scan.

10. Principy autonomního testování, uplatnění hierarchie.

11. Možnosti realizace autonomního testování, at-speed testing.

 

 

Osnova přednášek:
 
  • Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
  • Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
  • Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
  • Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
  • Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
  • Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
  • Testování obvodů PLA, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze obvodů PLA.
  • Principy autonomního testování číslicových obvodů.
  • Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
  • Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
  • Techniky CSTP, BILBO.
  • Konstrukce obvodů pro on-line testování
  • Metoda Boundary Scan. Testování spojů.
Literatura referenční:
 
  • M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 stran
  • A. L. Crouch: Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems, Prentice Hall, 1999, ISBN 0-13-084827-1, 347 stran
  • P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, ISBN 0-7923-9199-3, 375 stran