Název:

Diagnostika a bezpečné systémy

Zkratka:DIA
Ak.rok:ukončen 2002/2003
Semestr:zimní
Studijní plán:
ProgramOborRočníkPovinnost
EI-BC-3VTB2.st/1.rčvolitelný
EI-MGR-3VTN3.volitelný
EI-MGR-5VTI2.st/2.rčvolitelný
Vyučovací jazyk:čeština
Informace veřejné:http://www.fit.vutbr.cz/study/courses/DIA/public/
Kredity:6 kreditů
Ukončení:zkouška (písemná)
Výuka:
hod./sempřednáškasem./cvičenílab. cvičenípoč. cvičeníjiná
Rozsah:39012014
 zkouškatestycvičenílaboratořeostatní
Body:50250025
Garant:Drábek Vladimír, doc. Ing., CSc., UPSY
Přednášející:Drábek Vladimír, doc. Ing., CSc., UPSY
Cvičící:Drábek Vladimír, doc. Ing., CSc., UPSY
Fakulta:Fakulta informačních technologií VUT v Brně
Prerekvizity: 
Číslicové a impulsové obvody (CIO), FIT
Logické systémy (LOS), UPSY
Navazující:
Systémy odolné proti poruchám (SOP), FIT
 
Cíle předmětu:
Seznámit studenty s metodami generování testů logických obvodů, jejich minimalizace a komprese, a dále s metodikou navrhování snadno testovatelných obvodů.
Anotace:
Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů. Metody generování testů. Strukturální testy. Funkční testy. Testování sekvenčních obvodů. Generování testů na úrovni HDL. Náhodné a pseudonáhodné generování testů. Lokalizační posloupnosti. Slovníky poruch. Komprese diagnostických dat. Návrh pro snadné testování, strukturované metody. Vestavěná diagnostika. Testování pamětí. Testování procesorů a kabeláže. Zabezpečení proti poruchám. Přístrojové vybavení pro diagnostiku. Verifikační přístupy.
Získané dovednosti, znalosti a kompetence:
Základní metody generování testů návrhu pro snadné testování.
Osnova přednášek:
  1. Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  2. Metody generování testů.
  3. Funkční testy.
  4. Testování sekvenčních obvodů.
  5. Generování testů na úrovni RTL.
  6. Náhodné a pseudonáhodné generování testů.
  7. Lokalizační posloupnosti.
  8. Slovníky poruch.
  9. Komprese diagnostických dat.
  10. Návrh pro snadné testování.
  11. Vestavěná diagnostika.
  12. Testování pamětí.
  13. Testování procesorů, kabeláže.
  14. Zabezpečení proti poruchám.
  15. Principy odolnosti proti poruchám.
  16. Přístrojové vybavení pro diagnostiku.
Osnova numerických cvičení:
  1. Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  2. Metody generování testů.
  3. Funkční testy.
  4. Testování sekvenčních obvodů.
  5. Generování testů na úrovni RTL.
  6. Náhodné a pseudonáhodné generování testů.
Osnova laboratorních cvičení:
  1. Sčítačka s vestavěnou diagnostikou.
  2. Lineární posuvný registr se zpětnou vazbou.
  3. Lineární celulární automat.
  4. Hraniční testování.
  5. Testování pamětí.
Literatura referenční:
  1. Abramovici, M. - Breuer, M.A. - Friedman, A.D.: Digital Systems Testing and Testable Design, Computer Science Press, 1990
  2. Drábek, V.: Vlastnosti a použití binárních celulárních automatů, habilitační práce, Brno 1997
Literatura studijní:
Přednáškové texty v elektronické formě.
Kontrolovaná výuka:
Polosemestrální zkouška, laboratorní cvičení a projekt.
Průběžná kontrola studia:
Polosemestrální zkouška, laboratorní cvičení a projekt.
Podmínky zápočtu:
Absolvování polosemestrální zkoušky, laboratorních cvičení a vypracování projektu.