Název:

Diagnostika a bezpečné systémy

Zkratka:DBS
Ak.rok:ukončen 2009/2010
Semestr:zimní
Studijní plán:
ProgramOborRočníkPovinnost
IT-MGR-2MBI-volitelný
IT-MGR-2MBS-volitelný
IT-MGR-2MGM-volitelný
IT-MGR-2MGM.-volitelný
IT-MGR-2MIN-volitelný
IT-MGR-2MIN.-volitelný
IT-MGR-2MIS-volitelný
IT-MGR-2MIS.-volitelný
IT-MGR-2MMI-volitelný
IT-MGR-2MMM-volitelný
IT-MGR-2MPS2.volitelný
IT-MGR-2MPV-volitelný
IT-MGR-2MSK-volitelný
Vyučovací jazyk:čeština
Kredity:5 kreditů
Ukončení:zkouška (písemná)
Výuka:
hod./sempřednáškasem./cvičenílab. cvičenípoč. cvičeníjiná
Rozsah:3910088
 zkouškatestycvičenílaboratořeostatní
Body:502001515
Garant:Drábek Vladimír, doc. Ing., CSc., UPSY
Přednášející:Drábek Vladimír, doc. Ing., CSc., UPSY
Cvičící:Drábek Vladimír, doc. Ing., CSc., UPSY
Fakulta:Fakulta informačních technologií VUT v Brně
Pracoviště:Ústav počítačových systémů FIT VUT v Brně
Navazující:
Systémy odolné proti poruchám (SPP), UPSY
Nahrazuje:
Diagnostika a bezpečné systémy (DIA), UPSY
 
Cíle předmětu:
  Seznámit studenty s metodami generování testů logických obvodů, jejich minimalizace a komprese, a dále s metodikou navrhování snadno testovatelných obvodů.
Anotace:
  Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů. Metody generování testů. Strukturální testy. Funkční testy. Testování sekvenčních obvodů. Generování testů na úrovni HDL. Náhodné a pseudonáhodné generování testů. Lokalizační posloupnosti. Slovníky poruch. Komprese diagnostických dat. Návrh pro snadné testování, strukturované metody. Vestavěná diagnostika. Testování pamětí. Testování procesorů a kabeláže. Zabezpečení proti poruchám. Přístrojové vybavení pro diagnostiku. Verifikační přístupy.
Získané dovednosti, znalosti a kompetence:
  Základní metody generování testů a návrhu pro snadné testování.
Osnova přednášek:
 
  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.
  • Lokalizační posloupnosti.
  • Slovníky poruch.
  • Komprese diagnostických dat.
  • Návrh pro snadné testování.
  • Vestavěná diagnostika.
  • Testování pamětí.
  • Testování procesorů, kabeláže.
  • Zabezpečení proti poruchám.
  • Principy odolnosti proti poruchám.
  • Přístrojové vybavení pro diagnostiku.
Osnova numerických cvičení:
 
  • Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů.
  • Metody generování testů.
  • Funkční testy.
  • Testování sekvenčních obvodů.
  • Generování testů na úrovni RTL.
  • Náhodné a pseudonáhodné generování testů.
Osnova počítačových cvičení:
 
  • Sčítačka s vestavěnou diagnostikou.
  • Lineární posuvný registr se zpětnou vazbou.
  • Lineární celulární automat.
  • Hraniční testování.
  • Testování pamětí.
Osnova ostatní - projekty, práce:
 Individuální zadávání témat projektů.
Literatura referenční:
 
  • Abramovici, M. - Breuer, M.A. - Friedman, A.D.: Digital Systems Testing and Testable Design, Computer Science Press, 1990
  • Drábek, V.: Vlastnosti a použití binárních celulárních automatů, habilitační práce, Brno 1997
Literatura studijní:
 
  • Přednáškové texty v elektronické podobě.
Kontrolovaná výuka:
  Polosemestrální písemná zkouška, laboratorní cvičení a projekt.
Průběžná kontrola studia:
  Polosemestrální písemná zkouška, laboratorní cvičení a projekt.
Podmínky zápočtu:
  Absolvování polosemestrální zkoušky, laboratorních cvičení a vypracování projektu.
 

Vaše IPv4 adresa: 54.92.163.188
Přepnout na IPv6 spojení

DNSSEC [dnssec]