| Název: | Principy syntézy testovatelných obvodů |
|---|
| Zkratka: | PTD |
|---|
| Ak.rok: | 2012/2013 |
|---|
| Semestr: | zimní |
|---|
| Studijní plán: | |
|---|
| Vyučovací jazyk: | čeština |
|---|
| Ukončení: | zkouška (písemná) |
|---|
| Výuka: | | hod./sem | přednáška | sem./cvičení | lab. cvičení | poč. cvičení | jiná |
|---|
| Rozsah: | 39 | 0 | 0 | 0 | 0 |
|---|
| | zkouška | testy | cvičení | laboratoře | ostatní |
|---|
| Body: | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
|---|
|
|---|
| Garant: | Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc., UPSY |
|---|
| Přednášející: | Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc., UPSY |
|---|
| Fakulta: | Fakulta informačních technologií VUT v Brně |
|---|
| Pracoviště: | Ústav počítačových systémů FIT VUT v Brně |
|---|
| | | Anotace: |
|---|
Předmět poskytuje studentům aktuální informaci z oblasti testování číslicových obvodů a testovatelného návrhu. Zabývá se problémy z oblasti diagnostiky, s nimiž se setkává návrhář číslicových obvodů. Budou vysvětleny pojmy související s testovatelností číslicového obvodu (řiditelnost, pozorovatelnost) a metody jejího zlepšení. Pozornost bude zaměřena na metody strukturovaného návrhu, především LSSD, dále metody typu částečný scan. Bude pojednáno o principech autonomního testování a prvcích potřebných pro realizaci tohoto typu testu (generátory testovacích vektorů, příznakové analyzátory). | | Osnova přednášek: |
|---|
- Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
- Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
- Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
- Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
- Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
- Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
- Testování obvodů PLA, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze obvodů PLA.
- Principy autonomního testování číslicových obvodů.
- Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
- Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
- Techniky CSTP, BILBO.
- Konstrukce obvodů pro on-line testování
- Metoda Boundary Scan. Testování spojů.
| | Literatura referenční: |
|---|
- M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 stran
- A. L. Crouch: Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems, Prentice Hall, 1999, ISBN 0-13-084827-1, 347 stran
- P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, ISBN 0-7923-9199-3, 375 stran
| | |
|
Fakulta informačních technologií