Prof. Ing. Lukáš Sekanina, Ph.D.

SEKANINA Lukáš, VAŠÍČEK Zdeněk, BOSIO Alberto, TRAIOLA Marcello, RECH Paolo, OLIVEIRA Daniel, FERNANDES Fernando a DI Carlo Stefano. Special Session: How Approximate Computing impacts Verification, Test and Reliability. 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium. San Francisco: IEEE Computer Society, 2018. ISBN 978-1-5386-3774-6.
Jazyk publikace:angličtina
Název publikace:Special Session: How Approximate Computing impacts Verification, Test and Reliability
Název (cs):Speciální sekce: Jak aproximativní počítání ovlivňuje verifikaci, testování a spolehlivost
Strany:1
Kniha:2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium
Konference:IEEE VLSI Test Symposium 2018
Místo vydání:San Francisco, US
Rok:2018
ISBN:978-1-5386-3774-6
DOI:10.1109/VTS.2018.8368628
Vydavatel:IEEE Computer Society
Soubory: 
+Typ Jméno Název Vel. Poslední změna
icon02B-1.pdf92,9 KB2018-05-07 10:10:51
^ Vybrat vše
S vybranými:
Klíčová slova
digital circuit, approximate computing, verification, test, reliability
Anotace
Aproximativní počítání je nový přístup k realizaci výpočetních systémů, který se snaží o vylepšení energetické účinnosti, doby výpočtu a složitosti počítačů za cenu nenulové chybovosti. Cílem této speciální sekce je diskutovat jak aproximativní počítání může ovlivnit procesy verifikace, testování a celkovou spolehlivost číslicových obvodů. Jsou prezentovány dva pohledy: (i) jak aproximativní počítání ovlivňuje postup návrhu a výroby integrovaných obvodů a (ii) jak disciplíny verifikace, testování a spolehlivosti mohou být využity v rámci aproximativního přístupu.

Vaše IPv4 adresa: 107.23.129.77
Přepnout na https