Prof. Ing. Lukáš Sekanina, Ph.D.

SEKANINA Lukáš a RŮŽIČKA Richard. On the Automatic Design of Testable Circuits. In: Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Poznań: Publishing House of Poznan University of Technology, 2003, s. 299-300. ISBN 83-7143-557-6.
Jazyk publikace:angličtina
Název publikace:On the Automatic Design of Testable Circuits
Název (cs):Příspěvek k automatizovanému návrhu testovatelných obvodů
Strany:299-300
Sborník:Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Konference:6th IEEE International Workshop On DDECS
Místo vydání:Poznań, PL
Rok:2003
ISBN:83-7143-557-6
Vydavatel:Publishing House of Poznan University of Technology
Klíčová slova
Evolutionary design, testability, digital circuits
Anotace
V tomto článku je popsán přístup k automatizovanému návrhu netriviálních obvodů, které jsou z pohledu kvality a ceny srovnatelné s obvody navrženými konvenčními technikami, přitom jsou navíc i snadno testovatelné.
Abstrakt
An approach to the design of non-trivial circuits that are competitive with conventional designs in terms of quality as well as implementation cost, and furthermore, which are easily testable, is introduced in this paper.
BibTeX:
@INPROCEEDINGS{
   author = {Luk{\'{a}}{\v{s}} Sekanina and Richard
	R{\r{u}}{\v{z}}i{\v{c}}ka},
   title = {On the Automatic Design of Testable Circuits},
   pages = {299--300},
   booktitle = {Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of
	Electronic Circuits and Systems},
   year = {2003},
   location = {Pozna{\'{n}}, PL},
   publisher = {Publishing House of Poznan University of Technology},
   ISBN = {83-7143-557-6},
   language = {english},
   url = {http://www.fit.vutbr.cz/research/view_pub.php.cs?id=7162}
}

Vaše IPv4 adresa: 54.158.238.108
Přepnout na IPv6 spojení

DNSSEC [dnssec]