Detail publikace

On the Automatic Design of Testable Circuits

SEKANINA Lukáš a RŮŽIČKA Richard. On the Automatic Design of Testable Circuits. In: Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Poznań: Publishing House of Poznan University of Technology, 2003, s. 299-300. ISBN 83-7143-557-6.
Název česky
Příspěvek k automatizovanému návrhu testovatelných obvodů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY FIT VUT)
Abstrakt

V tomto článku je popsán přístup k automatizovanému návrhu netriviálních obvodů, které jsou z pohledu kvality a ceny srovnatelné s obvody navrženými konvenčními technikami, přitom jsou navíc i snadno testovatelné.

Rok
2003
Strany
299-300
Sborník
Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Konference
6th IEEE International Workshop On DDECS, Poznaň, hotel Trawinski, PL
ISBN
83-7143-557-6
Vydavatel
Publishing House of Poznan University of Technology
Místo
Poznań, PL
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB7162,
   author = "Luk\'{a}\v{s} Sekanina and Richard R\r{u}\v{z}i\v{c}ka",
   title = "On the Automatic Design of Testable Circuits",
   pages = "299--300",
   booktitle = "Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems",
   year = 2003,
   location = "Pozna\'{n}, PL",
   publisher = "Publishing House of Poznan University of Technology",
   ISBN = "83-7143-557-6",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7162"
}
Nahoru