Prof. Ing. Lukáš Sekanina, Ph.D.

KOTÁSEK Zdeněk, PEČENKA Tomáš, SEKANINA Lukáš a STRNADEL Josef. Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits. In: Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004. Montpellier: IEEE Computer Society, 2004, s. 107-108. ISBN 000000000.
Jazyk publikace:angličtina
Název publikace:Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits
Název (cs):Evoluční návrh testovacích obvodů na úrovni RT
Strany:107-108
Sborník:Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004
Konference:European Test Symposium
Místo vydání:Montpellier, FR
Rok:2004
ISBN:000000000
Vydavatel:IEEE Computer Society
URL:http://www.fit.vutbr.cz/~kotasek/pub/ets_04.pdf [PDF]
Klíčová slova
testovací obvody na úrovni RT, analýza testovatelnosti na úrovni RT, evoluční techniky
Anotace
V příspěvku je popsána možnost využití evolučních postupů pro vytváření struktur testovacích obvodů se širokou škálou parametrů testovatelnosti. Pro určení hodnoty fitness funkce je použita metoda založená na analytickém vyhodnocení paremetrů testovatelnosti. Řešení, která není možno syntetizovat návrhovým systémem jsou vyloučena. Pomocí této metodiky byly vygenerovány obvody s požadovanými a předem definovanými parametry řiditelnosti/pozorovatelnosti. Výstupem metodiky je popis struktury obdvodu ve VHDL. V článku jsou vyhodnoceny výsledky metodiky a jsou také naznačeny možné směry dalšího vývoje výzkumných prací.
BibTeX:
@INPROCEEDINGS{
   author = {Zden{\v{e}}k Kot{\'{a}}sek and Tom{\'{a}}{\v{s}}
	Pe{\v{c}}enka and Luk{\'{a}}{\v{s}} Sekanina and Josef
	Strnadel},
   title = {Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits},
   pages = {107--108},
   booktitle = {Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004},
   year = {2004},
   location = {Montpellier, FR},
   publisher = {IEEE Computer Society},
   ISBN = {000000000},
   language = {english},
   url = {http://www.fit.vutbr.cz/research/view_pub.php.cs?id=7482}
}

Vaše IPv4 adresa: 54.161.73.123
Přepnout na IPv6 spojení

DNSSEC [dnssec]