Detail publikace

An Overview of Research Activities in Digital Circuit Diagnosis and Benchmarking

KOTÁSEK Zdeněk, PEČENKA Tomáš, STRNADEL Josef, MIKA Daniel a SEKANINA Lukáš. An Overview of Research Activities in Digital Circuit Diagnosis and Benchmarking. In: Proceedings of the Sixth Internation Scientific Conference Electronic Computers nad Informatics 2004. Košice: Technická univerzita v Košiciach, 2004, s. 229-234. ISBN 80-8073-150-0.
Název česky
Přehled výzkumných aktivit v oblasti diagnostiky číslicových obvodů a testovacích obvodů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Pečenka Tomáš, Ing. (UPSY FIT VUT)
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Mika Daniel, Ing. (UPSY FIT VUT)
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
URL
Klíčová slova

I cesta, částečný scan, analýza I cest, testovací obvody

Abstrakt

V příspěvku jsou krátce prezentovány výsledky našich dosavadních výzkumných aktivit. Nejprve jsou představeny dvě metody výběru registrů do řetězce částečný scan a principy jejich implementace. Jedna z těchto metodik je založena na využití genetických algoritmů, druhá na identifikaci zpětnovazebních smyček. V práci je dále prezentován grafický nástroj pro paralelní analýzu i-cest. Grafická reprezentace popsaná v příspěvku umožňuje vytvořit novou metodiku návrhu řadiče testu. Závěrečná část příspěvku je věnována testovacím obvodům. Je v ní prezentována metodika vytváření testovacích obvodů založená na využití evolučních technik.

Rok
2004
Strany
229-234
Sborník
Proceedings of the Sixth Internation Scientific Conference Electronic Computers nad Informatics 2004
Konference
6TH International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2004, Herľany, SK
ISBN
80-8073-150-0
Vydavatel
Technická univerzita v Košiciach
Místo
Košice, SK
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB7600,
   author = "Zden\v{e}k Kot\'{a}sek and Tom\'{a}\v{s} Pe\v{c}enka and Josef Strnadel and Daniel Mika and Luk\'{a}\v{s} Sekanina",
   title = "An Overview of Research Activities in Digital Circuit Diagnosis and Benchmarking",
   pages = "229--234",
   booktitle = "Proceedings of the Sixth Internation Scientific Conference Electronic Computers nad Informatics 2004",
   year = 2004,
   location = "Ko\v{s}ice, SK",
   publisher = "The University of Technology Ko\v{s}ice",
   ISBN = "80-8073-150-0",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7600"
}
Nahoru