Prof. Ing. Lukáš Sekanina, Ph.D.

PEČENKA Tomáš, KOTÁSEK Zdeněk, SEKANINA Lukáš a STRNADEL Josef. Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties. In: Proc. of the 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 2005, s. 51-58. ISBN 0-7695-2399-4.
Jazyk publikace:angličtina
Název publikace:Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties
Název (cs):Automatické objevení benchmarkových obvodů na úrovni RT s požadovanými parametry testovatelnosti
Strany:51-58
Sborník:Proc. of the 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware
Konference:The 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware
Místo vydání:Los Alamitos, US
Rok:2005
ISBN:0-7695-2399-4
Vydavatel:IEEE Computer Society Press
URL:http://www.fit.vutbr.cz/~sekanina/publ/eh05/eh05bench.pdf [PDF]
Klíčová slova
evolutionary design, digital circuit, testability analysis, VHDL
Anotace
Článek popisuje využití evolučních algoritmů pro automatizovaný návrh benchmarkových obvodů. Je ukázáno, že relativně velké obvody mohou být navrženy evolucí pokud požadujeme pouze určité vlastnosti (např. testovatelnost) a nepožadujeme jejich funkčnost.
BibTeX:
@INPROCEEDINGS{
   author = {Tom{\'{a}}{\v{s}} Pe{\v{c}}enka and Zden{\v{e}}k
	Kot{\'{a}}sek and Luk{\'{a}}{\v{s}} Sekanina and Josef
	Strnadel},
   title = {Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with
	Predefined Testability Properties},
   pages = {51--58},
   booktitle = {Proc. of the 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware},
   year = {2005},
   location = {Los Alamitos, US},
   publisher = {IEEE Computer Society Press},
   ISBN = {0-7695-2399-4},
   language = {english},
   url = {http://www.fit.vutbr.cz/research/view_pub.php.cs?id=7811}
}

Vaše IPv4 adresa: 54.90.207.75
Přepnout na IPv6 spojení

DNSSEC [dnssec]