Prof. Ing. Lukáš Sekanina, Ph.D.

PEČENKA Tomáš, KOTÁSEK Zdeněk a SEKANINA Lukáš. FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties. In: Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop. Praha: IEEE Computer Society, 2006, s. 285-289. ISBN 1424401844.
Jazyk publikace:angličtina
Název publikace:FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties
Název (cs):FITTest_BENCH06: Nová sada testovacích obvodů zohledňující jejich testovatelnost
Strany:285-289
Sborník:Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop
Konference:IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop
Místo vydání:Praha, CZ
Rok:2006
ISBN:1424401844
Vydavatel:IEEE Computer Society
Klíčová slova
benchmark, synthetic, RTL, testability
Anotace
V příspěvku je představena sada syntetických testovacích obvodů FITTest_BENCH06 určená pro ověřování diagnostických metod a nástrojů. Sada se skládá z 31 obvodů na čtyřech úrovních složitosti (2000, 10000, 28000, 100000, 150000 a 300000 hradel), přičemž pro každou úroveň složitosti jsou k dispozici 4 úrovně testovatelnosti (pokrytí poruch 0%, 33%, 66% a 100%). Součástí příspěvku je také krátké představení návrhové metody použité pro vytvoření těcto obvodů.
BibTeX:
@INPROCEEDINGS{
   author = {Tom{\'{a}}{\v{s}} Pe{\v{c}}enka and Zden{\v{e}}k
	Kot{\'{a}}sek and Luk{\'{a}}{\v{s}} Sekanina},
   title = {FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting
	Testability Properties},
   pages = {285--289},
   booktitle = {Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic
	Circuits and Systems Workshop},
   year = {2006},
   location = {Praha, CZ},
   publisher = {IEEE Computer Society},
   ISBN = {1424401844},
   language = {english},
   url = {http://www.fit.vutbr.cz/research/view_pub.php.cs?id=8085}
}

Vaše IPv4 adresa: 54.82.81.154
Přepnout na IPv6 spojení

DNSSEC [dnssec]