Detail publikace

Microscopic Analysis of Chips

MALČÍK Dominik a DRAHANSKÝ Martin. Microscopic Analysis of Chips. In: Security Technology. Communications in Computer and Information Science. Jeju, Jeju Island: Springer Verlag, 2011, s. 113-122. ISBN 978-3-642-27188-5.
Název česky
Mikroskopická analýza čipů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Malčík Dominik, Ing. (UITS FIT VUT)
Drahanský Martin, prof. Ing., Dipl.-Ing., Ph.D. (UITS FIT VUT)
Klíčová slova

mikroskop, čip, pouzdro čipu, leadframe, rozpouzdření, dekapsulace, odpouzdření, obnažený čip, analýza čipů

Abstrakt

V současné době se setkáváme s různými druhy čipů bez nadsázky téměř všude. Jelikož je nutné, aby určité čipy splňovaly jistá kritéria, je třeba prověřit rozličné vlastnosti těchto čipů. Takovou vlastností může být například bezpečnost čipů s ohledem na jejich fyzickou strukturu. Tento článek prezentuje ověřený proces dekapsulace čipů, a také stručný úvod vztahující se k analýze čipů. Poslední kapitola je zčásti věnována softwaru, který vyvíjíme pro podporu výzkumníků při analýze čipů a také pro semiautomatickou analýzu vybraných vlastností čipů.

Rok
2011
Strany
113-122
Sborník
Security Technology
Řada
Communications in Computer and Information Science
Konference
International Conference on Security Technology (SecTech 2011) , Jeju Island, KR
ISBN
978-3-642-27188-5
Vydavatel
Springer Verlag
Místo
Jeju, Jeju Island, KR
DOI
10.1007/978-3-642-27189-2_12
UT WoS
000309943000012
EID Scopus
2-s2.0-84855411422
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB9848,
   author = "Dominik Mal\v{c}\'{i}k and Martin Drahansk\'{y}",
   title = "Microscopic Analysis of Chips",
   pages = "113--122",
   booktitle = "Security Technology",
   series = "Communications in Computer and Information Science",
   year = 2011,
   location = "Jeju, Jeju Island, KR",
   publisher = "Springer Verlag",
   ISBN = "978-3-642-27188-5",
   doi = "10.1007/978-3-642-27189-2\_12",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/9848"
}
Nahoru