Detail publikace

Easily Testable Image Operators: The Class of Circuits Where Evolution Beats Engineers

SEKANINA Lukáš a RŮŽIČKA Richard. Easily Testable Image Operators: The Class of Circuits Where Evolution Beats Engineers. In: The 2003 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 2003, s. 135-144. ISBN 0-7695-1977-6.
Název česky
Snadno testovatelné obrazové operátory: Třída obvodů, kde evoluční návrh poráží inženýry
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY FIT VUT)
URL
Abstrakt

Článek se zabývá snadno testovatelnými obrazovými operátory - třídou obvodů, kde evoluční návrh poráží inženýry. Evoluční algorimus je využit pro automatický návrh obrazových operátorů.

Rok
2003
Strany
135-144
Sborník
The 2003 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware
Konference
The 2003 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware, Chicago, US
ISBN
0-7695-1977-6
Vydavatel
IEEE Computer Society Press
Místo
Los Alamitos, US
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB7186,
   author = "Luk\'{a}\v{s} Sekanina and Richard R\r{u}\v{z}i\v{c}ka",
   title = "Easily Testable Image Operators: The Class of Circuits Where Evolution Beats Engineers",
   pages = "135--144",
   booktitle = "The 2003 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware",
   year = 2003,
   location = "Los Alamitos, US",
   publisher = "IEEE Computer Society Press",
   ISBN = "0-7695-1977-6",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7186"
}
Nahoru