Detail publikace

Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties

PEČENKA Tomáš, KOTÁSEK Zdeněk, SEKANINA Lukáš a STRNADEL Josef. Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties. In: Proc. of the 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 2005, s. 51-58. ISBN 0-7695-2399-4.
Název česky
Automatické objevení benchmarkových obvodů na úrovni RT s požadovanými parametry testovatelnosti
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Pečenka Tomáš, Ing. (UPSY FIT VUT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
URL
Abstrakt

Článek popisuje využití evolučních algoritmů pro automatizovaný návrh benchmarkových obvodů. Je ukázáno, že relativně velké obvody mohou být navrženy evolucí pokud požadujeme pouze určité vlastnosti (např. testovatelnost) a nepožadujeme jejich funkčnost.

Rok
2005
Strany
51-58
Sborník
Proc. of the 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware
Konference
The 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware, Washington D.C., US
ISBN
0-7695-2399-4
Vydavatel
IEEE Computer Society Press
Místo
Los Alamitos, US
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB7811,
   author = "Tom\'{a}\v{s} Pe\v{c}enka and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek and Luk\'{a}\v{s} Sekanina and Josef Strnadel",
   title = "Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties",
   pages = "51--58",
   booktitle = "Proc. of the 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware",
   year = 2005,
   location = "Los Alamitos, US",
   publisher = "IEEE Computer Society Press",
   ISBN = "0-7695-2399-4",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7811"
}
Nahoru